​电阻率与膜电阻

电阻率与膜电阻

导体的电阻值决定于导体的材料性质和几何尺寸。对于截面积恒定的导休，其电阻值与长度l成正比，与截面积S成反比R=pl/s (欧）

式中：l——导体的长度，单位为厘米,

S—导体的截面积，单位为厘米2;

p——与材料特性有关的常数，称为电阻率，单位为欧•厘.米。

电阻韦在数依上等于长1厘米，截面积为1厘米2的导体所具有的电阻值，单位为欧•厘米。电阻率的倒数称为电导率，用CT表示。单位为欧-1•厘米-1。电阻率是表征材料导电性能的重要参数，电阻器所用材料，一般应选择电阻率较高，性能稳定的材料。纯金属材料是良导体，电阻率很低，通常在10-5〜10-8欧•厘米左右，而且温度系数较大，因此纯金属不宜用来制造电阻器。用两种或几种金属制成的电阻合金具有较高的电阻率，约在1〇_4欧•厘米左右，而且温度系数也较低，可用来制造性能优良的电阻器。非线绕电阻器采用分散性导体（如炭黑、石墨）和薄膜材料（如热分解碳膜、金属膜），它们的电阻率约在10-2〜10-3欧•厘米范围。半导体材料的电阻率较高，但由于半导休受外界光、热以及其它物理因素的作用较为敏感，因此一般不宜用来制造性能稳定的电阻器，而适合于制造敏感电阻器。

对于薄膜材料，由于厚度非常小，厚度的精确测量有一定困难，而且这时导体的电阻率已不再是一个常数。因为这时薄膜不再是密实和完整的导体，薄膜具有一定的不连续性和凹凸不平。在这种情况下，导体的电阻率与厚度有密切的关系，通常是膜层越薄，电阻率也越大。因此，对于薄膜材料一般不采用电阻率，而釆用膜电阻来表征薄膜的特性。

膜电阻等于长宽相等的一块正方形薄膜，当电流从一边流向其对边吋所具有的电阻值，因此有方阻的名称。

用四探针法可以直接在薄膜上测量其膜电阻。四个探针在一条直线上，间距相等，约为1亳米。外面的两个探针是电流探针，里面的两个是电压探针。